抗静电能力测试仪

静电解决方案：静电测量 / 静电监测 / 防静电产品设备评估 / 静电消除及防静电

抗静电能力测试和分析系统 (TLP / HBM / MM / CDM Tester)/人体放电模式/机器放电模式/元器件充放电模式/ESD闩锁效应测试仪(Latch Up Tester)

抗静电能力测试仪及 Option Model Ecdm 400E/800E/1200E

Ecdm 系列具有价格竞争力的手动式/半自动式/全自动式抗静电能力测试仪 。测试探头/Adapter外接并且可更换的人性化设计,可实现四种测量模式分别为人体放电模式（HBM）,机器放电模式（MM）, 直接充电元器件放电模式（CDM) , 感应充电元器件放电模式（CPM,国外也称FI-CDM）。由于内置有TLP（传输线路脉冲）系统功能,利用脉冲宽度大小亦可作为V-I曲线测量仪使用。

该系列抗静电测试仪应用范围非常广泛。可组合Wafer Stage 或者Manipulator 应用于Wafer level测试。

特点：

五大模式可选：HBM,MM,DI-CDM,FI-CDM,TLP

符合各种ESD规范标准。（MIL,EIA/JEDEC,JEITA,AEC,ESDA等）

大可加电压+/- 8KV

可全程监视放电波形；ESD测试/噪音污染测试

可搭配wafer平台或治具；空气放电模式

■HBM、MM、D-CDM、F-CDM、TLP

    各种测试仪探头

【STAND型探头】

【BOX型探头】

【各种探头（STAND型）】

【DUT board、XY stage、Probe】